ELEKTRONIKENTWICKLUNGEN ↗
INNOVCHIP / VON DER IDEE ZUM PRODUKT

Elektronik entwickeln. Bis zur Fertigung.

Von der Anforderung zum fertigen Gerät: Schaltung, PCB, Firmware und Prototypen für Ihre industrielle Anwendung.

  1. 01Anforderung
  2. 02Schaltplan
  3. 03PCB
  4. 04Firmware
  5. 05Prototyp
  6. 06Fertigung
01

Ein abgestimmter Weg statt offener Übergaben

InnovChip verbindet die Entwicklung elektronischer Baugruppen mit Firmware und der Vorbereitung der Fertigung. Im Mittelpunkt steht Ihr Gerät: seine Funktion, die vorhandene Umgebung und ein überprüfbares Ergebnis für jede Phase. Sie können mit einem einzelnen Arbeitspaket oder einem vollständigen Entwicklungsprojekt starten.

02

Technische Klarheit vor der Umsetzung

Welche Schnittstellen sind gesetzt? Welche Betriebsfälle sind kritisch? Was muss zur Abnahme vorliegen? Wir strukturieren diese Fragen vor der Detailentwicklung. So lassen sich Annahmen, offene Punkte und spätere Änderungen sichtbar halten, während das Produkt Schritt für Schritt entsteht.

03

Für neue Geräte und bestehende Entwicklungen

Ein neuer Controller, eine Überarbeitung der Leiterplatte oder eine Erweiterung vorhandener Firmware benötigen unterschiedliche Einstiege. Vorhandene Unterlagen werden als Ausgangspunkt berücksichtigt. Ziel ist ein definierter nächster Schritt, dessen Ergebnis Sie für Ihr Produkt tatsächlich weiterverwenden können.

UNSERE LEISTUNGEN

Ein Arbeitspaket.
Oder der gesamte Weg.

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DER NÄCHSTE SCHRITT

Was soll Ihr Gerät leisten?

Beschreiben Sie Ihre Anwendung und den Stand Ihrer Entwicklung.

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Ratgeber

Praktische Leitfäden für Entwicklung, Prüfung und Fertigung elektronischer Produkte.

USB-C ohne Versorgung: CC und VBUS systematisch prüfen

Prüfablauf für USB-C-Verbraucher: Steckerorientierung, CC-Erkennung, Einschaltstrom und Belastung gemeinsam untersuchen.

SPI-Datenfehler: Taktflanken und Chip Select prüfen

SPI-Fehler anhand einer vollständigen Transaktion eingrenzen: CPOL, CPHA, Wortlänge, Chip Select und Signalqualität.

Watchdog richtig prüfen: Task-Fortschritt statt bloßem Lebenszeichen

Watchdog-Konzept mit messbarem Task-Fortschritt, begründeten Zeitfenstern und gezielter Fehlerauslösung prüfen.

Unterspannung und Reset: Brownout-Tests für Embedded-Platinen

Versorgungseinbrüche reproduzierbar prüfen und Reset-Schwelle, Wiederanlauf sowie gespeicherte Daten gemeinsam bewerten.

Flash-Lebensdauer: ein belastbares Schreibbudget erstellen

Schreibfrequenz, Löschvorgänge und Datenverlustfenster erfassen, bevor nichtflüchtiger Speicher im Dauerbetrieb eingesetzt wird.

FreeRTOS: Prioritätsinversion mit Zeitspuren untersuchen

Blockierungszeiten durch gemeinsam genutzte Ressourcen erkennen und Mutex, Priorität sowie kritische Abschnitte gezielt prüfen.

Thermische Prüfung: vom offenen Board zum realen Gehäuse

Verlustleistung, Messstelle und Gehäusebedingungen so dokumentieren, dass thermische Ergebnisse vergleichbar und nutzbar werden.

EMV-Vorprüfung: Betriebsarten und Kabel reproduzierbar erfassen

Eine praktische Vorbereitung für EMV-Untersuchungen mit definierten Betriebsarten, Kabelaufbau und nachvollziehbaren Änderungen.

BLE-Batterielaufzeit: das vollständige Stromprofil messen

BLE-Energiebedarf über Werbung, Verbindung, Sensorbetrieb und Wiederverbindung ermitteln statt nur den Schlafstrom zu betrachten.

Elektronik-Anforderungen: eine prüfbare Abnahmematrix erstellen

Anforderungen mit Messmethode, Bedingungen und Nachweisen verbinden, damit die Prototypenabnahme nachvollziehbar wird.

I²C-Bus blockiert: SDA, SCL und Wiederherstellung prüfen

Ein Sensor antwortet nach einem Reset nicht mehr? Prüfen Sie Leitungszustand, Versorgung und Transaktionsablauf, bevor Sie eine I²C-Bus-Recovery implementieren.

Von Classical CAN zu CAN FD: Kompatibilität vor dem Umbau prüfen

CAN FD einführen: Controller, Transceiver, Altgeräte, Buslast und Diagnosewerkzeuge systematisch prüfen, statt nur die Datenrate zu erhöhen.

ADC-Messfehler eingrenzen: vom Sensor zum Fehlerbudget

Mehr ADC-Bits bedeuten nicht automatisch genauere Messwerte. Prüfen Sie Referenz, Eingangsschaltung, Abtastung, Kalibrierung und Fehlergrenzen gemeinsam.

MQTT bei Verbindungsabbruch: Puffer und Wiederanlauf planen

Was soll ein Gateway bei Netzausfall speichern? Definieren Sie Datenalter, lokale Puffer, Duplikaterkennung und Wiederanlauf für MQTT-Anwendungen.

BOM-Ersatzbauteile qualifizieren: mehr als Gehäuse und Preis

Ein Ersatzteil freigeben: elektrische Grenzen, Startverhalten, Firmware, Fertigung und Nachweise systematisch vergleichen und in der BOM dokumentieren.

PCB-Fertigungsdaten freigeben: Checkliste vor der Bestellung

Gerber, Bohrdaten, Stückliste und Bestückungsplan prüfen: So stellen Sie einen konsistenten Datensatz für Leiterplattenfertigung und Montage zusammen.

STM32-Firmware-Update: Wiederanlauf nach Stromausfall planen

Ein Update muss auch nach einem Abbruch beherrschbar bleiben. Prüfen Sie Speicheraufteilung, Image-Freigabe, Wiederherstellung und gezielte Fehlertests.

RS-485 und Modbus RTU: Kommunikationsfehler systematisch prüfen

Keine Antwort oder sporadische CRC-Fehler? Trennen Sie Busverdrahtung, Signalqualität, UART-Einstellungen und Registerzuordnung bei der Fehlersuche.

BLDC/PMSM mit FOC: Anforderungen vor der Reglerauswahl

Welche Motordaten und Lastfälle braucht eine FOC-Auslegung? Prüfen Sie Anlauf, Drehzahlbereich, Rückführung, Bremsen und Abnahmekriterien.

Elektronik-Pilotserie: einen nachvollziehbaren Funktionstest planen

Vom Muster zur Pilotserie: Prüfschritte, Grenzwerte, Firmwarestände und Fehlerprotokolle so festlegen, dass Baugruppen vergleichbar geprüft werden.